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國外超高速照相測量技術(shù)有助探索復(fù)雜物理現(xiàn)象
導(dǎo)言:科研團隊表示,該測量技術(shù)僅需3.47ms即可測量分辨率為1024x882像素、寬度為6.4mm、高度為2.4mm的區(qū)域,下一步將繼續(xù)優(yōu)化提高該技術(shù)的檢測速度。此項研究成果發(fā)表在國際期刊《Light:Science and Application》上。
韓國科學(xué)技術(shù)院(KAIST)科研團隊開發(fā)出一種超高速照相測量技術(shù),通過將脈沖寬度為100飛秒(1/1000萬億分之一秒)的光脈沖分成大約1000種顏色,并使用不同顏色的脈沖來精確測量像素之間的高低差,在0.26GPixel/S像素填充率下的測量精度為330pm,能夠捕捉到半導(dǎo)體元器件中的微觀運動和結(jié)構(gòu),有助于探索此前從未觀察到的復(fù)雜物理現(xiàn)象。
科研團隊表示,該測量技術(shù)僅需3.47ms即可測量分辨率為1024x882像素、寬度為6.4mm、高度為2.4mm的區(qū)域,下一步將繼續(xù)優(yōu)化提高該技術(shù)的檢測速度。此項研究成果發(fā)表在國際期刊《Light:Science and Application》上。
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